Si2305DS-TI 采用高可靠性材料与成熟制程工艺设计,电气性能稳定、环境适应性强, 符合 ROHS、REACH 等欧盟环保指令要求,广泛应用于工业控制、电源管理、消费电子及智能设备领域。 产品一致性高、供货稳定,适用于对品质与可靠性要求严格的应用场景。
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■ 器件概述与封装
瑞斯特 Si2305DS-TI 是一款 P 沟道增强型功率 MOSFET,采用 SOT-23 小封装,额定漏源电压 VDS = -20V,连续漏极电流 ID = -4.2A(TA=25℃,1in²铜箔),脉冲电流 IDM = -10A。其导通电阻典型值为 53mΩ(VGS=-10V, ID=-4.5A)、65mΩ(VGS=-4.5V, ID=-4.2A)、100mΩ(VGS=-2.5V, ID=-2A)和 250mΩ(VGS=-1.8V, ID=-1A),在低电压 P 沟道器件中具有较低的导通损耗。SOT-23 封装尺寸极小,适合表面贴装应用,栅源电压 VGS = ±12V。
■ 关键电气参数
Si2305DS-TI 的栅极阈值电压典型值为 -0.5V(范围 -0.5~-1.5V),适合低压逻辑驱动。动态特性方面,输入电容 Ciss = 740pF(典型),输出电容 Coss = 167pF,反向传输电容 Crss = 126pF(VDS=-15V 时),较低的电容值有助于提高开关速度。栅极电荷 Qg 在 VGS=-4.5V 时为 10.6nC(典型),其中栅源电荷 2.32nC,栅漏电荷 3.68nC。开关时间(VDD=-15V, ID=-4.2A)为开通延迟 5.9ns,上升 3.6ns,关断延迟 32.4ns,下降 2.6ns。体二极管正向压降 VSD = 1.2V(IS=1.2A),反向恢复时间 27.7ns,恢复电荷 22nC。器件具有较高的跨导 gfs = 9S,确保良好的电流控制能力。
■ 热管理与可靠性设计
Si2305DS-TI 在 TA=25℃ 时最大耗散功率为 1.38W,线性降额因子 0.01W/℃;结到环境热阻(1in²铜箔)RθJA = 90℃/W,最小铜箔时热阻为 270℃/W。以 TA=25℃ 为参考的连续漏极电流为 -4.2A(70℃ 时 -3.4A)。建议在 PCB 布局中为 SOT-23 封装提供足够的铜箔面积以辅助散热。器件工作结温范围 -55℃ 至 150℃。
■ 典型应用场景
Si2305DS-TI 作为低压 P 沟道器件,特别适用于:
DC/DC 转换器:低压降压转换器的高侧开关。
负载开关:便携设备中的高侧负载通断控制。
电源管理:笔记本电脑、便携设备的电源路径管理。
电池保护:锂电池充放电保护电路。
瑞斯特 Si2305DS-TI 在极小封装内提供了低导通损耗和良好的开关性能,是便携式电源管理的理想选择。