RSTN7409A1 采用高可靠性材料与成熟制程工艺设计,电气性能稳定、环境适应性强, 符合 ROHS、REACH 等欧盟环保指令要求,广泛应用于工业控制、电源管理、消费电子及智能设备领域。 产品一致性高、供货稳定,适用于对品质与可靠性要求严格的应用场景。
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■ 器件概述与封装
瑞斯特 RSTN7409A1 是一款低压大电流P沟道增强型功率MOSFET,采用DFN5x6A-8_EP封装,额定漏源电压 VDS = -30V,连续漏极电流 ID = -50A(TC=25℃),脉冲电流 IDM = -150A。导通电阻典型值为 8mΩ(VGS=-10V, ID=-23A)和11mΩ(VGS=-4.5V, ID=-14A),在P沟道中具有较低导通损耗。器件经过100% UIS和Rg测试,可靠性高,符合RoHS且满足MSL1等级。DFN5x6A封装具有优异的散热能力和低寄生参数,适合笔记本、便携设备和电池供电系统的电源管理。
■ 关键电气参数
RSTN7409A1 的栅极阈值电压典型值约 -2V(范围 -1~-3V),兼容3.3V驱动。动态参数方面,输入电容典型值约1940pF(VDS=-15V),输出电容约260pF,反向传输电容约185pF。栅极电荷 Qg 典型值约34nC(VGS=-10V, ID=-23A)和17nC(VGS=-4.5V),其中栅源电荷约6nC,栅漏电荷约7.3nC。开关时间(VDD=-15V, ID=-1A)显示开通延迟约11ns,上升约10ns,关断延迟约155ns,下降约133ns。体二极管反向恢复时间约16ns,恢复电荷约6nC,适合中频硬开关应用。
■ 热管理与可靠性设计
RSTN7409A1 在 TC=25℃ 时最大耗散功率为 54W,TC=100℃ 时降额至22W;结到壳热阻 RθJC = 2.3℃/W,结到环境热阻(稳态)RθJA = 55℃/W(1in²铜箔)。雪崩耐受能力为单脉冲雪崩电流 IAS = -26A,雪崩能量 EAS = 34mJ(L=0.1mH)。建议在PCB布局中为大电流路径提供宽铜箔和大量过孔,以确保散热。
■ 典型应用场景
RSTN7409A1 凭借-30V耐压和50A电流能力,广泛适用于:
笔记本电源管理:CPU/GPU供电、大电流负载开关。
便携设备:平板电脑、移动电源中的电池保护。
DC/DC转换器:低压大电流降压转换器的主开关。
电池供电系统:多节并联锂电的充放电管理。
瑞斯特 RSTN7409A1 为低压大电流P沟道应用提供了高效、可靠的解决方案。