RSTN30L100 采用高可靠性材料与成熟制程工艺设计,电气性能稳定、环境适应性强, 符合 ROHS、REACH 等欧盟环保指令要求,广泛应用于工业控制、电源管理、消费电子及智能设备领域。 产品一致性高、供货稳定,适用于对品质与可靠性要求严格的应用场景。
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■ 器件概述与封装
瑞斯特 RSTN30L100 是一款超低导通电阻、超大电流P沟道增强型功率MOSFET,采用DFN5x6-8封装,额定漏源电压 VDS = -30V,连续漏极电流 ID = -100A(TC=25℃,封装限流100A),脉冲电流 IDM = -300A。导通电阻典型值极低,为 3.5mΩ(VGS=-10V, ID=-30A)和5mΩ(VGS=-4.5V, ID=-10A),在低压P沟道中具有卓越的导通性能。器件经过100% UIS和Rg测试,可靠性高,符合RoHS要求。DFN5x6封装提供极佳的热传导能力和低寄生电感,适合超高功率密度应用。
■ 关键电气参数
RSTN30L100 的栅极阈值电压典型值约 -1.8V(范围 -1.0~-2.5V),兼容3.3V驱动。动态参数方面,输入电容典型值约6100pF(VDS=-15V),输出电容约1130pF,反向传输电容约1100pF。栅极电荷 Qg 典型值约135nC(VGS=-10V, ID=-30A)和70nC(VGS=-4.5V),其中栅源电荷约12nC,栅漏电荷约36nC。开关时间(VDD=-15V, ID=-1A)显示开通延迟约22ns,上升约25ns,关断延迟约163ns,下降约104ns。体二极管反向恢复时间约32ns,恢复电荷约16nC,适合中高频硬开关应用。
■ 热管理与可靠性设计
RSTN30L100 在 TC=25℃ 时最大耗散功率为 78W,TC=100℃ 时降额至31W;结到壳热阻 RθJC = 1.6℃/W,结到环境热阻(稳态)RθJA = 55℃/W(1in²铜箔),瞬态(t≤10s)为20℃/W。雪崩耐受能力为单脉冲雪崩电流 IAS = -25A,雪崩能量 EAS = 156mJ(L=0.5mH),具有较强的瞬态能量吸收能力。建议在PCB布局中为大电流路径提供宽铜箔和大量过孔,以充分利用封装的低热阻优势。
■ 典型应用场景
RSTN30L100 凭借-30V耐压和100A电流能力,广泛适用于:
笔记本电源管理:CPU/GPU核心供电、大电流负载开关。
便携设备电池保护:大容量锂电的充放电控制。
负载开关:服务器、数据中心中的大电流热插拔开关。
DC/DC转换器:低压大电流降压转换器的主开关。
瑞斯特 RSTN30L100 为低压超大规模电流系统提供了极低的导通损耗,是高性能电源设计的理想选择。