RSTD30N08SM 采用高可靠性材料与成熟制程工艺设计,电气性能稳定、环境适应性强, 符合 ROHS、REACH 等欧盟环保指令要求,广泛应用于工业控制、电源管理、消费电子及智能设备领域。 产品一致性高、供货稳定,适用于对品质与可靠性要求严格的应用场景。
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■ 器件概述与封装
瑞斯特 RSTD30N08SM 是一款低压大电流 N 沟道增强型功率MOSFET,采用 TO-252-2 封装,专为台式机电源管理、DC/DC 转换器等应用设计。该器件额定漏源电压 VDS = 30V,连续漏极电流 ID = 50A(TC=25℃),脉冲电流 IDM = 300A,栅源电压耐受 ±20V。最高结温 150℃,存储温度范围 -55℃~150℃。RSTD30N08SM 经过 100% UIS 和 Rg 测试,MSL1 等级,具备高可靠性和耐用性。TO-252-2 封装提供良好的散热能力,适合大电流低压应用。
■ 关键电气参数
RSTD30N08SM 的导通电阻典型值 RDS(on) = 10mΩ(VGS=10V, ID=50A),VGS=4.5V 时典型值为 12mΩ。极低的导通电阻使其在低压大电流下损耗极低。栅极阈值电压 VGS(th) 范围 1.0~3.0V(ID=250μA)。动态参数方面,输入电容 CISS 约 2000pF(估计),栅极电荷 Qg 约 40nC(估计),适合中高频开关。器件经过 UIS 测试,单脉冲雪崩能量 EAS = 20mJ(L=0.1mH),确保在感性负载开关中的可靠性。栅极电阻未给出。
■ 热管理与可靠性设计
RSTD30N08SM 在 TC=25℃ 条件下最大耗散功率 PD = 41W,TC=100℃ 时降额至 16W。结到壳热阻 RθJC = 3℃/W,短脉冲(t≤10s)结到环境热阻 RθJA = 17℃/W,稳态 50℃/W(基于 1in² 铜箔)。建议为漏极焊盘提供足够铜箔以改善散热。器件经过 UIS 测试,确保在感性负载开关中的可靠性。
■ 典型应用场景
RSTD30N08SM 凭借 30V 耐压、50A 电流能力和超低导通电阻,广泛适用于以下应用:
台式机电源管理:CPU/GPU 供电模块中的同步整流。
DC/DC 转换器:高功率密度模块中的主开关。
电机驱动:大功率无刷电机控制。
电池保护:高电流充放电保护电路。
瑞斯特 RSTD30N08SM 以 TO-252-2 封装提供 30V/50A 的 N 沟道高性能,为高功率低压应用提供极低损耗的功率开关方案。