RST5055K 采用高可靠性材料与成熟制程工艺设计,电气性能稳定、环境适应性强, 符合 ROHS、REACH 等欧盟环保指令要求,广泛应用于工业控制、电源管理、消费电子及智能设备领域。 产品一致性高、供货稳定,适用于对品质与可靠性要求严格的应用场景。
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■ 器件概述与封装
瑞斯特 RST5055K 是一款采用先进沟槽工艺的 N沟道功率 MOSFET,额定漏源电压 VDS = 50V,连续漏极电流 ID = 55A(Tc=25℃),脉冲漏极电流 IDM = 200A。导通电阻 RDS(ON) < 12.5mΩ @ VGS=10V(典型 9.6mΩ),< 17mΩ @ VGS=4.5V(典型 12.5mΩ),具备极低的导通损耗。最大功耗 PD = 65W(Tc=25℃),工作结温范围 -55~175℃,结到壳热阻 RθJC = 2.3℃/W。采用 TO-252-2L(DPAK)表面贴装封装,优异的散热性能适合高功率密度应用。100% 雪崩测试和 100% dV/dt 测试保证器件可靠性。
■ 核心电气参数与动态性能
阈值电压 VGS(th) = 1.2~2.5V(ID=250μA),典型值 1.9V。输入电容 CISS = 1760pF(典型),输出电容 COSS = 169pF,反向传输电容 CRSS = 123pF。开关特性:开通延迟 td(on) = 6.1ns,上升时间 tr = 17ns,关断延迟 td(off) = 29ns,下降时间 tf = 16.5ns。总栅极电荷 Qg = 35.4nC(VDS=25V,ID=20A,VGS=10V),栅源电荷 Qgs = 4.3nC,栅漏电荷 Qgd = 10.5nC。体二极管正向压降 VSD = 1.2V(IS=20A),反向恢复时间 trr = 29ns,反向恢复电荷 Qrr = 26nC。单脉冲雪崩能量 EAS = 230mJ(L=0.5mH)。
■ 低导通电阻与高可靠性
RST5055K 通过高密度元胞设计和先进沟槽工艺,实现了 9.6mΩ 的典型导通电阻,大幅降低功率损耗,提升系统效率。175℃ 最高结温配合低热阻封装(Rth(j-c)=2.3℃/W),确保在高温大电流工况下稳定运行。高 EAS 能力(230mJ)使其在感性负载开关和异常工况下具有优异的抗雪崩击穿能力。100% 雪崩测试和 dV/dt 测试进一步保障了产品的批次一致性和长期可靠性,适合对可靠性要求严苛的工业应用。
■ 典型应用场景
RST5055K 凭借 50V 耐压、55A 通流能力和低导通电阻,适用于以下高功率密度应用:
• 负载开关与电源管理:服务器电源、通信设备电源的热插拔和负载切换。
• 高频开关电路:DC-DC 转换器、同步整流,快速开关速度提升转换效率。
• 不间断电源(UPS):逆变器和旁路开关,高雪崩能力适应电网波动。
• 电机驱动:电动工具、无人机电调等需要大电流快速开关的场合。
选型时注意 VGS 驱动电压 ≥4.5V 以充分发挥低导通电阻优势,175℃ 结温上限提供充裕热设计裕量。