RST30H10G 采用高可靠性材料与成熟制程工艺设计,电气性能稳定、环境适应性强, 符合 ROHS、REACH 等欧盟环保指令要求,广泛应用于工业控制、电源管理、消费电子及智能设备领域。 产品一致性高、供货稳定,适用于对品质与可靠性要求严格的应用场景。
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■ 器件概述与封装特性
瑞斯特(RST)RST30H10G 是一款采用 DFN 5x6-8L 表面贴装封装的高性能 N 沟道功率 MOSFET,专为超高功率密度开关应用而设计。该器件采用先进的沟槽工艺技术,实现了超低的导通电阻和低栅极电荷,具备优异的 ESD 保护能力和高可靠性。主要额定参数:漏源电压 VDS = 30V,连续漏极电流 ID = 100A(TC=100℃ 时 70.7A),脉冲漏极电流 IDM = 300A,栅源电压 VGS = ±20V。器件耗散功率 PD = 65W,降额因子 0.43W/℃,结温范围 -55℃ ~ +175℃。DFN 5x6-8L 封装结到外壳热阻 RθJC = 2.3℃/W,适用于超高功率密度设计,如 DC-DC 转换器、负载开关等。
■ 关键电气参数
RST30H10G 的导通电阻典型值在 VGS=10V、ID=20A 时为 1.9mΩ,最大值 2.5mΩ(VGS=4.5V 时最大 3.5mΩ),极低 RDS(on) 可大幅降低导通损耗。栅极阈值电压 VGS(th) 典型值为 1.7V(ID=250μA),适合 3V/5V 逻辑驱动。动态特性方面,输入电容 CISS = 5000pF,输出电容 COSS = 1135pF,反向传输电容 CRSS = 563pF(VDS=15V、f=1MHz)。开关特性方面,典型开通延迟时间 td(on) = 26ns,上升时间 tr = 24ns,关断延迟时间 td(off) = 91ns,下降时间 tf = 39ns(VDD=15V、ID=20A、VGS=10V、RGEN=2.5Ω)。总栅极电荷 Qg = 38nC,栅源电荷 Qgs = 9nC,栅漏电荷 Qgd = 13nC。体二极管正向压降 VSD = 1.2V(IS=10A),反向恢复时间 trr = 42ns,反向恢复电荷 Qrr = 39nC。
■ 热设计与可靠性
DFN 5x6-8L 封装结到外壳热阻 RθJC = 2.3℃/W,设计时需注意 PCB 铜箔面积和散热过孔。在 25℃ 壳温下最大耗散功率 65W,降额因子 0.43W/℃。工作结温范围 -55℃ ~ +175℃。器件经过 100% UIS 和 100% AVds 测试,确保在严苛的雪崩和过压条件下可靠工作。符合无铅制造要求,可承受 260℃ 回流焊峰值温度。
■ 主要应用领域
RST30H10G 凭借 30V 耐压和极低 RDS(on),广泛应用于以下场景:
电源开关应用:用于 DC-DC 转换器、开关电源中的功率开关。
硬开关和高频电路:适用于高频开关电路和功率因数校正(PFC)。
不间断电源(UPS):用于 UPS 系统中的功率开关电路。
负载开关:用于高功率负载切换应用。
电源管理:用于高功率密度电源系统中的功率级。
综上,瑞斯特 RST30H10G 以 DFN 5x6-8L 封装和极低 RDS(on),为超高功率密度开关应用提供顶级方案。