RST2008E 采用高可靠性材料与成熟制程工艺设计,电气性能稳定、环境适应性强, 符合 ROHS、REACH 等欧盟环保指令要求,广泛应用于工业控制、电源管理、消费电子及智能设备领域。 产品一致性高、供货稳定,适用于对品质与可靠性要求严格的应用场景。
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■ 器件概述与封装特性
瑞斯特 RST2008E 是一款采用先进沟槽工艺技术的N沟道增强型功率MOSFET,专为负载开关、PWM应用设计,支持低至2.5V的栅极驱动电压,并具有2000V HBM ESD防护能力。主要额定参数:漏源电压 VDS = 20V,连续漏极电流 ID = 6A(TA=25℃),脉冲漏极电流 IDM = 30A,导通电阻 RDS(ON) < 24mΩ(VGS=4.5V,典型值17mΩ),RDS(ON) < 30mΩ(VGS=2.5V,典型值22mΩ)。采用 TSSOP-8 表面贴装封装,结到环境热阻 83.3℃/W,最大功率耗散 1.5W(TA=25℃)。工作结温范围 -55~150℃,无铅产品,表面贴装封装。
■ 关键电气参数
RST2008E 具有优异的导通特性,典型阈值电压 VGS(th) = 0.7V(ID=250μA),正向跨导 gFS = 20S(VDS=5V,ID=6A)。动态参数方面,输入电容 Ciss = 650pF,输出电容 Coss = 140pF,反向传输电容 Crss = 60pF(VDS=10V,VGS=0V,f=1MHz)。开关特性极其优异:开通延迟 td(on) = 0.5ns,上升时间 tr = 1ns,关断延迟 td(off) = 12ns,下降时间 tf = 4ns。总栅极电荷 Qg = 8nC(VDS=10V,ID=6A,VGS=4.5V),栅源电荷 Qgs = 2.5nC,栅漏电荷 Qgd = 3nC。体二极管正向电压 VSD < 1.2V。
■ 热设计与高可靠性
RST2008E 结到环境热阻 83.3℃/W,配合 TSSOP-8 小封装设计。ESD额定值2000V HBM,提供良好的静电防护能力。高密度单元设计实现了超低导通电阻(典型17mΩ),器件经雪崩电压和电流全特性表征。TSSOP-8封装适合高密度板级组装,低阈值电压支持2.5V驱动。
■ 主要应用领域
RST2008E 适用于低压开关应用:
PWM应用:PWM控制电路中的功率开关。
负载开关:便携式设备中的负载切换、电源路径管理。
电源管理:低压DC-DC转换器、稳压器中的功率开关。
消费电子:智能手机、平板电脑等便携设备的电源管理。
其20V耐压、6A电流能力和超低导通电阻(典型17mΩ),配合TSSOP-8小封装,适合空间受限的低压高效应用。选型时需注意热管理,确保结温不超过150℃。