RST15P25I 采用高可靠性材料与成熟制程工艺设计,电气性能稳定、环境适应性强, 符合 ROHS、REACH 等欧盟环保指令要求,广泛应用于工业控制、电源管理、消费电子及智能设备领域。 产品一致性高、供货稳定,适用于对品质与可靠性要求严格的应用场景。
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■ 器件概述与封装特性
瑞斯特(RST)RST15P25I 是一款采用 TO-251 表面贴装封装的高性能 P 沟道功率 MOSFET,专为高功率密度开关应用而设计。该器件采用先进的沟槽工艺技术,实现了超低的导通电阻和低栅极电荷,具备优异的 ESD 保护能力和高可靠性。主要额定参数:漏源电压 VDS = -150V,连续漏极电流 ID = -25A(TC=100℃ 时 -17A),脉冲漏极电流 IDM = -140A,栅源电压 VGS = ±20V。器件耗散功率 PD = 160W,降额因子 1.3W/℃,结温范围 -55℃ ~ +150℃。TO-251 封装结到外壳热阻 RθJC = 1.25℃/W,适合高密度 PCB 设计。
■ 关键电气参数
RST15P25I 的导通电阻典型值在 VGS=-10V、ID=-20A 时为 120mΩ,最大值 135mΩ(VGS=-4.5V 时最大 160mΩ),低 RDS(on) 可有效降低导通损耗。栅极阈值电压 VGS(th) 典型值为 -1.9V(ID=-250μA),适合 3V/5V 逻辑驱动。动态特性方面,输入电容 CISS = 7650pF,输出电容 COSS = 148pF,反向传输电容 CRSS = 131pF(VDS=-75V、f=1MHz)。开关特性方面,典型开通延迟时间 td(on) = 17ns,上升时间 tr = 80ns,关断延迟时间 td(off) = 45ns,下降时间 tf = 65ns。总栅极电荷 Qg = 137nC,栅源电荷 Qgs = 25nC,栅漏电荷 Qgd = 28nC。体二极管反向恢复电荷 Qrr = 105nC。
■ 热设计与可靠性
TO-251 封装结到外壳热阻 RθJC = 1.25℃/W,设计时需注意 PCB 铜箔面积和散热过孔。在 25℃ 壳温下最大耗散功率 160W,降额因子 1.3W/℃。工作结温范围 -55℃ ~ +150℃。器件经过 100% UIS 和 100% AVds 测试,确保在严苛的雪崩和过压条件下可靠工作。符合无铅制造要求,可承受 260℃ 回流焊峰值温度。
■ 主要应用领域
RST15P25I 凭借 -150V 耐压和 -25A 电流能力,广泛应用于以下场景:
便携设备:用于便携设备和电池供电系统中的电源管理。
DC-DC 转换器:适用于升压/降压转换器中的高侧开关。
逆变器:用于功率逆变器的功率级开关。
负载开关:用于高功率负载切换应用。
电池保护:用于锂电池保护电路中的充放电控制。
综上,瑞斯特 RST15P25I 以 TO-251 封装和 -150V 耐压,为高功率密度 P 沟道开关应用提供理想方案。