瑞斯特半导体申请的两项专利已由国家知识产权局受理

2026年7月3日，深圳市瑞斯特半导体有限公司（以下简称“瑞斯特半导体”）传来喜讯——公司提交的两项专利申请已正式获得国家知识产权局受理，标志着企业在半导体测试与检测领域的技术创新取得了阶段性成果。

据国家知识产权局下发的《专利申请受理通知书》显示，此次获得受理的两项专利分别为 “一种半导体器件性能参数自动检测方法” （申请号：202610984577.3）和 “一种半导体器件测试用定位夹具” （申请号：202621004693.6）。

其中，发明专利“一种半导体器件性能参数自动检测方法”提交了权利要求书9项、说明书7页及附图1页；实用新型专利“一种半导体器件测试用定位夹具”提交了权利要求书7项、说明书2页及附图3页。两项专利的发明人均为公司创始人张泽彬。

瑞斯特半导体（RSTTEK）是一家专注于功率半导体器件研发、设计与销售的高科技企业，自2021年成立以来始终聚焦于MOSFET、IGBT等功率半导体产品的技术创新与应用推广。公司以“用芯驱动未来”为核心理念，致力于为全球客户提供高性能、高可靠性的功率器件解决方案。

在半导体产业快速发展的当下，检测与测试环节的重要性日益凸显——半导体检测已从传统的末端质量把关演变为贯穿芯片设计、晶圆制造、封装测试全流程的核心支点。此次获得受理的“性能参数自动检测方法”专利，有望通过自动化检测手段提升半导体器件性能参数测试的效率与准确性；而“测试用定位夹具”专利则聚焦于测试环节的物理定位与夹持精度，为半导体器件测试提供更稳定可靠的硬件支撑。

两项专利的同时受理，体现了瑞斯特半导体在半导体测试技术领域的前瞻布局与持续投入。公司将继续深耕功率半导体赛道，以技术创新驱动产品升级，为我国半导体产业链的自主可控与高质量发展贡献积极力量。